BSI-K-TR-0050-2009
NXP eCover P5CD080 AC
TCOS Passport Version 2.02
NXP P5CD080V0B
Elektronischer Reisepass (ePass)
Inlay mit BAC, EAC & PA
| Antragsteller | NXP Semiconductors Germany GmbH |
| Prüfstelle / Auditor |
secunet Security Networks AG
CETECOM ICT Services GmbH |
| Technische Richtlinie | BSI TR-03105 – Conformity Tests for Official Electronic ID Documents |
| Prüfbereich/e |
BSI TR-03105 – Chip Tests on Layer 6, 7 BSI TR-03105 – Chip Tests on Layer 1-4 |
| Prüfgrundlage/n |
BSI TR-03105, Teil 2, Layer 1-4, Version 2.01.1 |
| Ausstellungsdatum | 06.11.2009 |