BSI-DSZ-CC-0700-V2-2013
NXP P5CD080V0B / V0B(s) Secure Smart Card Controller
| Antragsteller / Applicant | NXP Semiconductors Germany GmbH Stresemannallee 101 |
| Prüfstelle / Evaluation Facility |
T-Systems GEI GmbH |
| Prüftiefe / Assurance |
EAL5+, ALC_DVS.2, AVA_MSU.3, AVA_VLA.4 |
| Schutzprofil / Protection Profile |
Smartcard IC Platform Protection Profile, Version 1.0, July 2001, BSI-PP-0002-2001 |
| Ausstellungsdatum / Certification Date |
23.10.2013 |
BSI-DSZ-CC-0700-V2-2013 (23.10.2013)
Zertifizierungsreport / Certification Report
Sicherheitsvorgaben / Security Target
BSI-DSZ-CC-0700-2011 (25.10.2011)
Zertifizierungsreport / Certification Report
Sicherheitsvorgaben / Security Target
Der Evaluierungsgegenstand (EVG) ist der integrierte Schaltkreis NXP P5CD080V0B, der auf einer Smartcard als Hardware Plattform verwendet werden kann. Er beinhaltet außerdem IC Dedicated Test Software für Testzwecke und IC Dedicated Support Software, beide werden im Test-ROM des Microcontroller gespeichert.
Im Verfahren BSI-DSZ-CC-0700-V2-2013 wurde das Produkt einer Rezertifizierung unterzogen, da eine neue Produktionsstätte (Wafer Fab) in den Lebenszyklus aufgenommen wurde.
The TOE is called NXP P5CD080V0B, a hardware integrated circuit which can be used on a plastic smartcard as hardware computing platform. The TOE includes also IC Dedicated Test Software for test purposes and IC Dedicated Support Software, both stored in the Test-ROM of the microcontroller.
In the process BSI-DSZ-CC-0700-V2-2013 the product has undergone a re-certification because a new production site (wafer fab) was introduced into the life cycle.