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Laser Fault Injection Attack on the eXtended Merkle Signature Scheme

Bild zu Laser Fault Injection Attack on the eXtended Merkle Signature Schem
Platine mit dem Untersuchungsobjekt (links) und vergrößerte Infrarot-Aufnahme der Mikrocontrollerrückseite mit farblich markierten Speicherregionen (rechts). Quelle: BSI