BSI TR-03105 Conformity Tests for Official Electronic ID Documents
Einführung
Als vielleicht die größte Herausforderung bei der Einführung elektronischer Reisedokumente hat sich die Sicherstellung der internationalen Interoperabilität der elektronischen Reisepässe und der dazugehörigen Lesegeräte ergeben. Um diesem Umstand Rechnung zu tragen, hat das Bundesamt für Sicherheit in der Informationstechnik (BSI) im Jahr 2005 die "Technische Richtlinie BSI TR-03105 – ePassport Conformity Testing (TR-ePass)" veröffentlicht. Ziel dieser Richtlinie ist es, Prüfkriterien für die Sicherstellung der Interoperabilität elektronischer Reisedokumente bereitzustellen.
Zu Version 2.0
Durch die Weiterentwicklung der Chipkarten- und RFID-Technik und durch die Erfahrungen der bisher durchgeführten Konformitätstests der akkreditierten Testhäuser, ergab sich die Notwendigkeit, die Testspezifikationen an die aktuellen technischen Entwicklungen anzupassen. Die Teildokumente der TR-03105 wurden an diese Neuerungen angepasst und aktualisiert. Die bisherige Struktur der TR-03105 wurde übersichtlicher gestaltet, blieb in der Aufteilungen jedoch größtenteils erhalten, so dass weiterhin eine Zuordnung der Teildokumente nach der alten sowie der neuen Version möglich ist.
Mit Blick auf die Einführung der elektronischen Personalausweises (ePA) wurden in der aktuellen Version der TR-03105 bereits Testspezifikationen für EAC 2.0 berücksichtigt. Mit Erweiterung der Testspezifikation im Gebiet des ePA wurde auch eine Namensänderung der TR notwendig. Die Bezeichnung "ePassport Conformity Testing (TR-ePass)" wird nun durch den Titel "Conformity Testing for Official Electronic ID Documents" ersetzt.
Struktur der TR
Die BSI TR-03105 gliedert sich in mehrere Teildokumente, die jeweils einen Teilbereich der Chipkarten- beziehungsweise Lesegerät-Tests umfassen.
Grunddokument
Das Grunddokument wird momentan überarbeitet und steht daher nicht zum Download zur Verfügung!
Allgemeiner Teil
BSI TR-03105 Part 1.2 Component Specification RFID, Version 1.02.1
Chip-Prüfungen auf den Schichten 1-4
Chip-Prüfungen auf den Schichten 6-7
BSI TR-03105 Part 3.2 Test plan for eMRTDs with EACv1 Version 1.3
BSI TR-03105 Part 3.2 Test plan for eMRTDs with EACv1 Version 1.4.1
BSI TR-03105 Part 3.2 Test plan for eMRTDs with EACv1, Version 1.5
BSI TR-03105 Part 3.2 Test plan for eMRTDs with EACv1, Version 1.5.1
BSI TR-03105 Part 3.3 Test plan for eID-Cards with Advanced Security Mechanisms EACv2, Version 1.03
Amendment to BSI TR-03105 Part 3.3, Version 1.03
BSI TR-03105 Part 3.3 Test plan for eID-Cards with Advanced Security Mechanisms EACv2, Version 1.1
BSI TR-03105 Part 3.3 Test plan for eID-Cards with Advanced Security Mechanisms EACv2, Version 1.2
BSI TR-03105 Part 3.3 Test plan for eID-Cards with Advanced Security Mechanisms EACv2, Version 1.4
Teil 3.3 der Technischen Richtlinie in Version 1.4 ist ausschließlich für Zertifizierungsverfahren von eID-Applets im Kontext der Smart-eID zu verwenden.
BSI TR-03105 Part 3.4 Test plan for eID-cards with eSign-application acc. to BSI TR-03117
Lesegerät-Prüfungen auf den Schichten 1-4
Test Specification Comparison - ISO/IEC 10373-6:2011 vs. NFC Forum Test Specifications
Lesegerät-Prüfungen auf den Schichten 6-7
BSI TR-03105 Part 5.1 Test plan for ICAO compliant Inspection Systems with EACv1, Version 1.5
Musterdatensatz für PCD-Prüfungen: BSI TR-03105-5 ReferenceDataSet
BSI TR-03105 Part 5.2 Test plan for eID and eSign compliant eCard reader systems with EACv2
BSI TR-03105 Part 5.3 Test plan for eID and eSign compliant terminal software with EACv2
BSI TR-03105-5.3 XML Test Cases
Konformitätsbestätigung
Beim BSI kann der Antrag auf Konformitätsbestätigung für die in den Teildokumenten 2 bis 5 beschriebenen Produkte gestellt werden.
- Kurz-URL:
- https://www.bsi.bund.de/dok/TR-03105