Die Testinfrastruktur setzt sich aus den einzelnen Komponenten der eID-Infrastruktur zusammen. Sie bietet Testmöglichkeiten sowie Testwerkzeuge insbesondere für die Hersteller der einzelnen Komponenten. Damit soll primär die Interoperabilität der Komponenten in der eID-Infrastruktur sichergestellt werden. Das BSI hat die Schnittstellen der Komponenten in Form von Technischen Richtlinien spezifiziert. Aus der Konformität der Komponenten zu den Richtlinien ergibt sich deren Interoperabilität.

Rahmenbedingungen

Die eID-Infrastruktur wird im Wirksystem betrieben. Tests im Wirksystem sind auch aus rechtlichen Gründen nur in sehr eingeschränktem Maße möglich. Berechtigungszertifikate dürfen im Wirksystem nur für produktive eID-Anwendungen ausgegeben werden. Zudem können im Wirksystem keine Testausweise sondern nur Echtausweise verwendet werden.

Daher ist eine Spiegelung des Wirksystems auf ein getrenntes Testsystem notwendig, um Tests unter Echtbedingungen durchzuführen. In diesem Testsystem können – bis auf abschließende Freigabetests – alle wirksystemnahen Integrationstests durchgeführt werden. Alle Änderungen, die im Wirksystem durchgeführt werden sollen, werden im Rahmen eines abgestimmten zeitlichen Vorlaufs vorab im Testsystem durchgeführt.

Da das Testsystem im Wesentlichen identisch zum Wirksystem betrieben wird, dient ein Entwicklungssystem zur Unterstützung bei der Implementierung von Komponenten. Dieses ermöglicht entwicklungsbegleitende Tests sowie die Erprobung neuer Funktionalitäten.

Komponenten der eID-Infrastruktur

Die eID-Infrastruktur besteht aus fünf separaten Komponenten. Auf der Anwendungsseite sind dies die eID-Karte, der eID-Kartenleser und der eID-Client. Diese kommunizieren mit der eID-Anwendung und dem eID-Server auf Seite des Diensteanbieters. Über den eID-Server erfolgt die Anbindung an das fundamentale Hintergrundsystem. Folgende Grafik zeigt exemplarisch den Aufbau der eID-Infrastruktur und die Kommunikationsbeziehungen zwischen den einzelnen Komponenten:

Zur Gewährleistung der Konformität und Interoperabilität aller Komponenten der eID-Infrastruktur sind Testmöglichkeiten für jede Komponente erforderlich. Die im Entwicklungs-, Test- und Wirksystem zur Verfügung stehenden Testmöglichkeiten werden im entsprechenden Unterkapitel zu jeder eID-Komponente beschrieben. Bei den Testmöglichkeiten kann es sich um kommerziell erhältliche Produkte, aber auch um frei verfügbare Test- oder Entwicklerversionen handeln.

Jedes Unterkapitel ist so aufgebaut, dass zunächst eine Beschreibung der zur Verfügung stehenden Konformitäts- und Interoperabilitätstests erfolgt. Diese dienen dem Hersteller einerseits als Hilfestellung bei der Komponenten-Entwicklung. Darüber hinaus stellen sie die Konformität und Interoperabilität zu anderen Komponenten sicher. Im Anschluss werden die zur Verfügung stehenden Testelemente der betrachteten Komponente aufgeführt. Diese Testelemente können von Herstellern anderer Komponenten für Funktionstests verwendet werden.

Kontakt

Aspekte zur eID-Infrastruktur und zur Testinfrastruktur im Speziellen werden in der DIF-Arbeitsgruppe eID-Infrastruktur (DIF-eID) thematisiert. Der Kontakt zur Arbeitsgruppe kann über folgende E-Mail Adresse aufgenommen werden: dif-eid@bsi.bund.de.